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介绍
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简介

● 直播主题:半导体可靠性工程

● 直播介绍:
将系统学习半导体可靠性工程的概念,讲解早期失效、偶发失效、损耗失效的概念及数学模型;重点围绕功率半导体器件,学习功率半导体器件常见的失效机理、半导体器件可靠性实验方法及分析手段,结合实际案例,对器件制造工艺带来的参数漂移以及应用中最为普遍发生的热失效等问题做深入分析。

● 大纲:
1. 半导体可靠性工程综述
1.1半导体可靠性工程的概念及意义
1.2可靠性与失效的关系
1.3早期失效、偶发失效、损耗失效的概念及数学模型
2.功率半导体器件的失效机理及失效分析方法
2.1功率VDMOS器件的安全工作区及主要失效机理
2.2功率半导体器件的可靠性试验及失效分析方法
2.3案例:制造工艺带来的参数漂移失效
3.功率半导体器件的热阻及封装可靠性
3.1热阻的定义及测试方法
3.2热阻与封装引发失效的关联

● 直播时间:2019年5月18日 14:00-17:00

导师

专家

高巍 教授

电子科技大学电子科学与工程学院副教授
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主办方

世纪电源网(21dianyuan.com)
公司致力于中国电子电源行业信息化建设,以提高中国电子电源行业的效率和国际竞争力为己任。公司是中国专业的电子与电源行业信息化网络平台,影响的行业人士超过100万,服务的企业超过30万家,其中紧密合作的世界五百强企业超过20家以上。

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