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物联网终端和智能设备设计的可靠性之惑和解决之道
饶骞
01:03:51 / 共2课时
在这个专题中, 将结合过去两年多测试的经验, 进行深一步探究并提出一些解决方法, 帮助工程师朋友们少走些弯路。
目录
介绍

1- 智能设备面临的常见射频测试问题

26:04

2- 精确的功耗分析, 以及电池性能和寿命的准确评估

37:47
课程简介
很多工程师都在尝试将传统的产品被植入物联网技术,使之变得更智能、高效和有竞争力。 可是, 我们经常看到, 当把外购的物联网模块植入到自己产品中, 会发现通信性能在不同的设计和工作场景下千差万别;电池的理论估算工作寿命也会与实际使用寿命相差千里等等问题。

【大纲】
1. 智能设备面临的常见射频测试问题
2. 常见无线通信信号的产生和分析
3. 精确的功耗分析, 以及电池性能和寿命的准确评估
演讲老师
饶骞
是德科技-电源和能源事业部中国区市场经理
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