从研发到产线：多通道测试如何解电子研习社-指尖上的电子技术培训

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从研发到产线：多通道测试如何解

Eric

38:13 / 共1课时

介绍

从研发到产线：多通道测试如何解

38:13

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课程简介

随着产品功能日益复杂，从研发的电源时序监控，到产线的多设备并行测试，多通道测试已成为核心挑战。本次线上研讨会将聚焦这一痛点，为您提供覆盖产品全生命周期的高效解决方案。

演讲老师

Eric

普源精电技术市场经理

深耕测试测量行业多年，先后担任现场应用工程师与技术市场经理，拥有丰富的产品技术支持经验。曾经主导推动多款产品从 Charter 至 NPI 全流程，并推进多个测试解决方案的整合与发布。