边缘 AI 硬件市场迎来高速发展窗口期,实时推理、终端低功耗、小型化集成成为行业主流方向。无源器件支撑着边缘设备电源链路与高速信号通路,器件性能偏差极易引发供电纹波超标、信号失真、整机功耗异常等问题,无源器件精准测试的重要性持续凸显。本次专题带来边缘 AI 技术趋势下无源器件测试分享,针对边缘 AI 硬件研发过程中无源元器件高频阻抗、Q 值、直流偏置特性、自谐振点、微小封装参数测量等典型挑战。我们将演示多种成熟测试方案,对比不同设备与测试方法的优劣边界、适配研发 / 量产场景,并依托实测案例与测试数据,共同交流面向边缘 AI 硬件的无源器件标准化精密测试思路。