高性能芯片供电验证测试挑战与 Keysight 解决方案
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2026/10/14 10:00-12:00
讲师:吕宝华、饶骞
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  • 高性能 AI 芯片、处理器等核心供电已降至 0.6V 以下,电流高达数百安培,负载变化速率达数十 A/μs 。传统测试难以捕捉此工况下的微小电压跌落、纹波噪声和时序偏差,供电验证已成为系统稳定性的关键瓶颈。

    在这场直播中, 我们将重点关注利用 Keysight 高性能电源方案来应对这些挑战:超低纹波纯净电源,满足严苛供电要求;支持多路严格同步与时序上电验证;高速动态负载模拟真实瞬态响应;精准分析电压跌落与恢复时间,并对芯片高动态功耗进行测量。为 AI 芯片、服务器及机器人等高性能计算平台的供电系统提供全面可靠的测试保障。


吕宝华     是德科技电源及精密测量产品专家
现任是德科技通用电子测量事业部,电源及精密测量产品专家,负责中国区先进电源、源表的应用开发及技术顾问。擅长领域:物联网产品功耗测试诊断、精密电流测量分析和先进电源系统方案应用、测试仪表的编程和自动化控制。
饶骞     是德科技电源和通用产品市场经理
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