本次研讨会将介绍如何在 PLECS 仿真中引入真实栅极驱动行为,以显著提升功率器件开关过程与损耗仿真的准确性。 通过对比理想电压源与真实栅极驱动在输出电流能力、输出级结构及开关动态方面的关键差异,说明这些因素对 Eon/Eoff 损耗计算的实际影响。
同时,研讨会中将演示 onsemi Self‑Service PLECS Model Generator 的最新升级,展示如何通过新增的栅极驱动与接口建模步骤,以及更直观的交互式原理图与损耗模型设置,使仿真结果更加贴近真实硬件行为。