简单的过温检测解决方案:Thermoflagger™
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2024/06/27 10:00-12:00
讲师:刘翠
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  • 直播内容

    随着电子设备上电子元件越来越密集和复杂,半导体和电子元件所产生的热量也在不断增加。因此,过温检测解决方案变得日益重要。

    针对这一问题的解决,本次研讨会将从Thermoflagger™的定义、使用方法及其特性、以及新产品系列和应用示例这几个方面介绍东芝的过温检测解决方案和Thermoflagger™。

     

    技术亮点

    1. 简化过温检测的电路设计。

    2. 可同时在多个点进行过温监测的低成本解决方案。

    3. 支持与保护IC结合使用的故障安全设计。

     

    学习收获

    了解针对多个点同时进行过温监测的低成本解决方案。

刘翠     TOSHIBA工程师
现就职于东芝电子元件(上海)有限公司深圳分公司半导体技术统括部,从事半导体产品技术支持。
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注:谢绝所有小号参与,一旦发现,不予兑奖,请谅解。

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