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物联网终端和智能设备设计的可靠性之惑和解决之道
讲师:饶骞
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章节目录
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1- 智能设备面临的常见射频测试问题
时长: 26:04
2- 精确的功耗分析, 以及电池性能和寿命的准确评估
时长: 37:47
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物联网终端和智能设备设计的可靠性之惑和解决之道
讲师:饶骞
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直播大纲
【直播时间】9月18日 15:00-15:40
【直播大纲】
1. 智能设备面临的常见射频测试问题
2. 常见无线通信信号的产生和分析
3. 精确的功耗分析, 以及电池性能和寿命的准确评估
【直播亮点】
在这个专题中, 将结合过去两年多测试的经验, 进行深一步探究并提出一些解决方法, 帮助工程师朋友们少走些弯路。
饶骞 是德科技 中国区分销市场经理
1997年加入中国惠普公司测试测量仪器部,之后随公司的战略重组,2000年进入安捷伦科技。在2014年,在安捷伦的战略拆分中,转入是德科技(中国)有限公司,先后负责通用测量仪器、电源和能源市场、亚太地区教育市场等开发工作。先担任是德科技中国区渠道市场的开发。
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